用鲁大师测固态硬盘质量?搞笑了 (鲁大师测固态硬盘准确吗)
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机械硬盘时代,大家都用HDTune基准来测硬盘速度、错误扫描测有无坏块。那么固态硬盘买到手后要不要先扫一扫确认好坏呢? 其实这样做完全没有必要,固态硬盘虽然也有坏块的概念,但所有坏块在产生后就会被主控标记,并不再运用。闪存的坏块也不像机械硬盘坏道那样容易扩散,因此用HDTune错误扫描来测验固态硬盘是没有价值的。 另一个常见的固态硬盘小白错误认知就是用鲁*的磁盘检测功能来检查固态硬盘的“体质”。往往是一测不要紧,测出若干个“瑕疵”区块来——这固态硬盘有缺点啊! 其实现在还信鲁*的话也是图样图森破了,随便拿一块全新的硬盘来,不管是机械硬盘还是固态硬盘,扫上一圈下来,必定能检测到瑕疵来! 之所以会有这样的尴尬,主要原因还是在于鲁*采用的检测标准本身太过时了,他依然用十几年前眼光看现在的硬盘,当代机械硬盘的储存密度已经比过去增加了很多倍,寻道时间也比过去更慢了,响应时间增大,就容易被鲁*判定为“有瑕疵”。 有朋友可能会问,机械硬盘质量不如从前了,为何固态硬盘按照过去机械硬盘的方式去检测,也会检出“瑕疵”来?这是因为固态硬盘内有一张虚拟的FTL闪存转换表,这张表需要定期写入到闪存中保存,避免断电遗失引起掉盘。而更新FTL表有可能会对读写产生瞬间干扰,而平时我们运用中这个情况是体会不到的。 此外,鲁*的测验都是在*作*内进行,除了鲁*之外,其他软件、后台或驱动程序也可能对硬盘进行少量读写,产生一些干扰。 可以通过测验来验证:如果在测验过程中打开另一个软件对硬盘同时进行读写,鲁*的测验成绩立刻变得不堪入目,仅仅几秒钟时间就有几百个区块被认定是遗失、严重*。而硬盘还是原来那块硬盘,只是外部干扰增多了而已。 同样在ToshibaAG固态硬盘测验过程中,用其他软件加入干扰,测验结果也出现恶化,但是被判定为遗失的区块数量极少,没有一个区块被判定为“严重”级别。显然A固态硬盘要比希捷机械硬盘抗干扰能力更强。 固态硬盘在鲁*测出有瑕疵完全没必要担心,事实上固态硬盘的可靠性比传统机械硬盘要高,尤其是Toshiba等原厂产品,主控、闪存均产自自家,加之一流的固件配合,问题率要比机械硬盘低的多。 固态硬盘并没有机械硬盘的体质不一样,在不一样闪存单元之间或许会有寿命的不一样,但当他们正常工作的时候,大家是检测不到每个单元之间的性能差别。也就是说,买固态硬盘,不必挑体质。