元器件损坏特点及检测方法 (元器件本身的故障有哪些)

一．电阻损坏的特点及检测方法1.电阻损坏的特点电阻是电器设备中数量最多的元件，但不是损坏率最高的元件。电阻损坏以开路最常见，zuzhi阻值变大较少见，zuzhi阻值变小十分少见。常见的有碳膜电阻、金属膜电阻、线绕电阻和保险电阻几种。前两种电阻应用最广，其损坏的特点一是低zuzhi阻值（Ω以下）和高zuzhi阻值（kΩ以上）的损坏率较高，中间zuzhi阻值（如几百欧到几十千欧）的极少损坏；二是低zuzhi阻值电阻损坏时往往是烧焦发黑，很容易发现，而高zuzhi阻值电阻损坏时很少有痕迹。线绕电阻一般用作大电流限流，zuzhi阻值不大。圆柱形线绕电阻烧坏时有的会发黑或表面爆皮、裂纹，有的没有痕迹。水泥电阻是线绕电阻的一种，烧坏时可能会断裂，否则也没有可见痕迹。保险电阻烧坏时有的表面会炸掉一块皮，有的也没有什么痕迹，但绝不会烧焦发黑。1.电阻的检测方法1）检查万用表电池方法如下：将挡位旋钮依次置于电阻挡R×1?和R×K挡，然后将红、黑测试笔短接。旋转欧姆调零电位器，观察指针是否指向零（MF型万用表如R×1?挡，指针不能校零，则更换万用表的1.5V电池。如R×?挡，指针不能校零，更换9V电池。）2）选择适当倍率挡测量某一电阻器的zuzhi阻值时，要依据电阻器的zuzhi阻值正确选择倍率挡，按万用表使用方法规定，万用表指针应在全刻度的中心部分读数才较准确。测量时电阻器的zuzhi阻值是万用表上刻度的数值与倍率的乘积。如测量一电阻器，所选倍率为R×1，刻度数值为9.4，该电阻器电zuzhi阻值为R=9.4×1=9.4?。3）电阻挡调零在测量电阻之前必须进行电阻挡调零。其方法如检查电池方法一样（短接红黑测试笔），在测量电阻时，每更换一次倍率挡后，都必须重新调零。2．测量前的准备工作将两表笔（不分正负）分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电zuzhi阻值。为了提高测量精度，根据被测电阻标称值的大小来选择量程。由于欧姆挡刻度的非线性关系，它的中间一段分度较为精细，因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置，即全刻度起始的%—%弧度范围内，以使测量更准确。根据电阻误差等级不同。读数与标称zuzhi阻值之间分别允许有±5%、±%或±%的误差。如不相符，超出误差范围，则说明该电阻器变值了。注意事项：测试时，特别是在测几十KΩ以上zuzhi阻值的电阻时，手不要触及表笔和电阻的导电部分；被检测的电阻人电路板中焊下来，至少要焊开一个引脚，以免电路中的其他元件对测试产生影响，造成测量误差；色环电阻的zuzhi阻值虽然能以色环标志来确定，但在使用时最好还是用万用表测试下其实际zuzhi阻值。根据以上特点，在检查电阻时可有所侧重，快速找出损坏的电阻。二．电解电容损坏的特点及检测方法1.电解电容的损坏特点电解电容在电器设备中的用量很大，【故障】率很高。电解电容损坏有以下几种表现：一是完全失去容量或容量变小；二是轻微或严重漏电；三是失去容量或容量变小兼有漏电。查找损坏的电解电容方法有：（1）看：有的电容损坏时会漏液，电容下面的电路板表面甚至电容外表都会有一层油渍，这种电容绝对不能再用；有的电容损坏后会鼓起，这种电容也不能继续使用；（2）摸：开机后有些漏电严重的电解电容会发热，用手指触摸时甚至会烫手，这种电容必须更换；（3）电解电容内部有电解液，长时间烘烤会使电解液变干，导致电容量减小，所以要重点检查散热片及大功率元器件附近的电容，离其越近，损坏的可能性就越大。2.电解电容的检测方法因为电解电容的容量比一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。根据经验，一般情况下，nF-—&mICro;F间的电容，可用R×1k挡测量；μF—μF的电容可用R×挡测量；μF以上的电容可用R×1或R×挡测量。在检测电解电容器时，要先对电容器放电，特别是对于大容量的电解电容器，可以直接短路两个引脚进行放电。然后万用表红表笔接负极，黑表笔接正极，在刚接触的瞬间，万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡，容量越大，摆幅越大)，接着逐渐向左回转，直到停在某一位置。此时的zuzhi阻值便是电解电容的正向漏电阻，此值略大于反向漏电阻。实际使用经验表明，电解电容的漏电阻一般应在几百kΩ以上，否则，将不能正常工作。在测试中，若正向、反向均无充电的现象，即表针不动，则说明容量消失或内部断路；如果所测zuzhi阻值很小或为零，说明电容漏电大或已击穿损坏，不能再使用。三.半导体器件损坏的特点1.半导体器件损坏的特点二、三极管的损坏一般是PN结击穿或开路，其中以击穿短路居多。此外还有两种损坏表现：一是热稳定性变差，表现为开机时正常，工作一段时间后，发生软击穿；另一种是PN结的特性变差。2．半导体器件的检测方法用万用表R×1k测，各PN结均正常，但上机后不能正常工作，如果用R×或R×1低量程档测，就会发现其PN结正向zuzhi阻值比正常值大。测量二、三极管可以用指针万用表在路测量，较准确的方法是：将万用表置R×或R×1档（一般用R×档，不明显时再用R×1档）在路测二、三极管的PN结正、反向电阻，如果正向电阻不太大（相对正常值），反向电阻足够大（相对正向值），表明该PN结正常，反之就值得怀疑，需焊下后再测。这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上，用万用表低zuzhi阻值档在路测量，可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。四.集成电路损坏的特点集成电路内部结构复杂，功能很多，任何一部分损坏都无*常工作。集成电路的损坏也有两种：彻底损坏、热稳定性*。彻底损坏时，可将其拆下，与正常同型号集成电路对比测其每一引脚对地的正、反向电阻，总能找到其中一只或几只引脚zuzhi阻值异常。对热稳定性差的，可以在设备工作时，用无水酒精*被怀疑的集成电路，如果【故障】发生时间推迟或不再发生【故障】，即可判定。通常只能更换新集成电路来排除。友情提示，文章来自互联网收集，如有侵犯，请联系我们立即删除，本文仅代表作者个人观点，与本网无关。其原创性以及文中陈述文字和内容未经本站证实，对本文以及其中全部或者部分内容、文字的真实性、完整性、及时性本站不作任何保证或承诺，请读者仅作参考，并请自行核实相关内容。欢迎你到技术交流请*