固态硬盘耐久度如何计算？ (固态硬盘耐久度测试软件)

写入耐久度是固态硬盘的重要可靠性指标之一。由于闪存自身特点，储存的数据不能覆盖写入，改写时必须先擦除整个区块然后再进行写入，而闪存可擦除的次数有限，基本上固态硬盘的可用寿命就是由写入量来决定了。今天为大家介绍的是业界如何标定固态硬盘的耐久度指标。

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固态硬盘所用的闪存晶圆　　从结构来说，闪存已经经历了从SLC、MLC到TLC的主流转换，带动固态硬盘从大众高攀不起降到了走进千家万户的普及，固态硬盘已经不再是高玩的小众专属。闪存运用保存在FloatingGate中的电子来保存数据，随着储存密度的增加，每个储存单元需要表达的数据从2个状态、4个状态提升到现在TLC的8个状态，对于ECC纠错技术也提出了更高的要求。

SLC、MLC、TLC的数据表达　　Toshiba是较晚将TLC闪存使用在消费级固态硬盘产品当中的，首款产品被命名为Q，当前市售Q.实际上已经是第二代产品，在型号中多了一个英文句号后缀。

ToshibaQ固态硬盘　　当前市售Q.的参数表如下：提供从G到G的容量可供选择，ToshibaTCNC主控搭配Toshiba原厂nmTLC闪存，运用适应性最广的SATA3.0接口。

Q主控与闪存信息　　下面我们来看作为闪存发明者的Toshiba是如何标识Q的耐久度或者说可靠度的，主要涉及到了MTTF（平均失效前时间）和TBW（TeraBytesWritten或TotalBytesWritten）两个指标：ToshibaQ的MTTF为万小时，TBW则依容量不一样从TB到TB不等。

ToshibaQSpec　　在介绍MTTF（平均失效前时间）之前首先要介绍一下MTBF（平均问题间隔时间）。在工业领域MTBF运用广泛，它表达了产品在一定时间内保持正常工作不出问题的能力。

MTBF　　一般来说，企业级固态硬盘要求问题间隔时间应在万小时以上，这不是说固态硬盘用到万小时一定会坏，也不是说万小时以前一定不会坏，而是一个问题概率指标，对于大容量样本时有参考价值。

　　举个例子，如果有企业级使用采购了同型号的1万个固态硬盘组成磁盘阵列运用，那么按照万小时的问题间隔时间，可以预期每小时可能会发生一个硬盘因问题而失效。

　　MTBF平均问题间隔时间是针对可维修产品而言，对于不可维修产品一般运用MTTF平均问题前时间，也就是出现首个问题前的时长。消费级固态硬盘的售后一般都是换新而非维修，所以ToshibaQ运用了MTTF标识可靠度，具体来说就是万小时。对于消费级固态硬盘来说，MTTF的标准是按照%工作和%通电闲置来计算的。　　除了MTTF之外，固态硬盘还会运用TBW来表达写入耐久度，TBW可以是TeraBytesWritten或TotalBytesWritten的缩写，总之它表达的是固态硬盘闪存可以承受多大数据写入量。不一样厂商对于TBW的标称方式是不一样的，Toshiba选择的是遵循JESD标准的工作负载进行评价，标称的数值针对主机写入量，而不是闪存实际写入量。一般来说由于写入放大特点的存在，闪存实际写入量是大于主机写入量的，所以尽管看起来Q的TBW指标不高，但实际闪存寿命是有保障的。　　按照JESD规范，消费级固态硬盘开机状态测验条件为摄氏度环境，每天8小时工作负载，当关机断电后，放置在摄氏度环境下，闪存内储存的数据至少应保持1年以上。

JESD　　不少媒体测验固态硬盘耐久度时选择只管写入不管能否读出的策略，测出的耐久度数值很好看，然而却并没有卵用——在彻底写挂之前闪存写入的数据已经不可靠了。　　ToshibaQGB的官方标称耐久度指标是TB，这是在苛刻随机写入（写入放大很高）的情况下进行的，每天写入GB至少可以用3年，而大容量型号的写入指标则会随容量提升而翻倍增长，所以当前对于TLC固态硬盘而言，耐久度已经不是问题。　　标称值仅是一个保底标准，而实际工作运用能达成更高的成绩。国内PCEVA对ToshibaQ马甲产品——TR的耐久度测验就进行到了PE以上才终结。下图中F1项TotalHostWrite（主机写入量）的单位是MB，显示值约合GB，是GB容量的倍。

写入PE之后的TRSMART信息截图