DDR扫盲——DDR3基础知识
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RL为总的读取潜伏期,其被定义为AdditiveLatency(AL)+CASLatency(CL); CASLatency为读取潜伏,为内部读命令和第一个bit有效数据输出之间的时钟周期; AdditiveLatency为附加潜伏期,它的作用为使命令和数据总线更有效,即允许读或者写命令紧跟有效命令; CASWriteLatency(CWL)列写潜伏期,被定义为内部写命令和第一个bit有效数据输入之间的时钟周期延时;DDR3SDRAM不支持半周期潜伏,总的写潜伏为WriteLatency(WL)=AdditiveLatency(AL)+CAS tDQSCK是差分时钟的交叉点到数据选通脉冲的交叉点的时间; tQSH是DQS的差分输出高电平时间; tQSL是DQS的差分输出低电平时间; tDQSQ是最近数据选通脉冲到数据有效的时间; tQH是数据选通脉冲到最早的无效数据无*确判断数据是否为1的时间; 读时序 ODT(On-Termination)提供打开和关闭终结电阻的功能,该功能只为DQ、DQS、/DQS和DM管脚*; */命令建立时间、保持时间和降额 tis(totalsetuptime)=tis(base)+tis tih(totalsetuptime)=tih(base)+tih 数据建立时间、保持时间和降额 tDS(totalsetuptime)=tDS(base)+tDS tDH(totalholdtime)=tDH(base)+tDH