低电感ANPC拓扑结构集成新型950V IGBT和二极管技术,满足光伏应用的需求 (pcb电感怎么找)
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图1.V、V和VMPTIGBT技术权衡比较图。图中给出的静态损耗和动态损耗值均是在TJ=°C和VDC=2/3∙VCES条件下测得。另外,图中给出了V和V最先进*IGBT器件的损耗值作为参考。应该注意的是,电流密度随着阻断电压的增加而降低。L7和S7的电流密度比T7大%左右。因此,如果功率模块中使用的芯片面积相同,VIGBT的性能优势比VIGBT更加明显。另外,将L7和S7与最先进的VT4和VE4进行比较,结果表明该性能优势与采用MPT理念和技术直接相关。接下来,我们重点比较L7、S7和T7。图2显示了L7、S7和T7的关断和开通波形。关断时,S7的开关特性最硬,即开关斜率(dv/dt)最大且峰值电压VCE,peak最高。值得注意的是,由于栅极驱动单元固有绝缘能力制约,许多应用建议将dv/dtmax*在kV/µs。再来看S7,VCE,peak和dv/dt接近各自的最大值,并且超过了上述典型应用限值。L7和T7的表现十分软,未达到临界值。开通时,所有器件的开关性能不相上下。如果栅极电阻(RG)进一步降低,S7的开关损耗降低,dv/dt值增大。图2.在VDC=V和TJ=°C条件下,当IC=Inom和IC=0.1∙Inom时,L7、S7和T7的关断波形(左侧)和开通波形(右侧)。表格包含特性参数。图3显示了L7、S7和T7的动态损耗之和,即左侧的开通损耗EON和关断损耗EOFF,以及右侧VRAPID二极管和VEC7的恢复损耗之和。比较在相同的芯片额定电流条件下进行,即Inom=A和VDC=V。所示损耗是在集电极电流(IC)和二极管电流(IF)为A的条件下测得。所使用的RG值是根据上述VCE,peak和dv/dtmax限值推导得出。图3.当VDC=V和Inom=A时,IGBT(左侧)和二极管(右侧)的开关损耗。对于T7,开通和关断时使用的最小RG为1.8Ω。根据典型应用限值,L7使用RG,on=9Ω和RG,off=3Ω;L7使用RG,on=Ω和RG,off=Ω。我们来看IGBT损耗。如果集电极电流最大为A,S7的动态损耗显然比T7略低。L7的情况则有所不同:毫无疑问,L7的动态损耗较大,这是因为L7为经优化的低静态损耗器件。如果IC>A,在TJ=°C条件下,T7的动态损耗低于S7。然而,应该注意的是,L7和S7的设计电流密度高于T7。如果在相同的几何芯片尺寸下比较所有器件,情况就会有所改变。如果集电极电流为A,S7的动态损耗比T7降低%,但是S7的静态损耗仅比T7高mV。L7的动态损耗基本不变,但是VCE再次下降。当IC=A时,L7的静态压降比T7低mV。对于二极管来说,情况要简单得多。为了清楚起见,VRAPID二极管和VEC7二极管分别与S7和T7一起运行。VRAPID二极管的损耗低于VEC7的损耗。此外,二极管损耗远低于IGBT损耗,但通常这一点在光伏应用中并不重要。3.A*拓扑结构研究在本节中,我们将研究A*拓扑结构及其在功率模块设计内的相互作用。图4显示了光伏逆变器采用的典型A*拓扑结构。实验中使用了六个子*,每个子*由一个IGBT(T1至T6)和一个反并联二极管(D1至D6)组成。以对称方式从DC+到N和从N到DC-施加VDC。在子*1到子*4中,所研究的A*拓扑结构使用快速开关器件;在*5和子*6中,该A*拓扑结构使用低静态损耗器件。参考文献[5,6]全面地探讨和解释了A*拓扑结构和相关换流通路。图4.子*1至子*4以及子*5和子*6中,A*拓扑结构分别采用快速开关器件和低静态损耗器件的示意图。实线和绿色虚线表示所研究的换流通路。在有源功率运行中,比如正输出电压和正输出电流,图4中实线和绿色虚线表示典型的换流通路。为了清楚起见,T1与D2换流,而T5连续处于开通状态。因而,有源功率运行的一个主要换流通路是在DC+和N和/或N和DC-之间。因此,应该通过设计措施最大限度减少这些通路中的寄生电感,以确保优化性能。4.A*拓扑结构和功率模块设计的相互作用下面分析A*拓扑结构性能与功率模块设计的相互作用,如图4所示。在本示例中,所有器件的最大阻断电压为V。在任何情况下,分析结果均可以轻松地转移到阻断电压更高(比如V或V)的任何其他IGBT和二极管技术。该方法分析了T1和D2的开关特性。本文将总杂散电感为nH的典型功率模块设计与Lσ,total=nH的经优化功率模块设计进行比较。为了清楚起见,设定Lσ,total=Lσ,setup+Lσ,module,其中Lσ,setup为设置杂散电感,Lσ,module为模块杂散电感。如[7]中所述,杂散电感对器件性能有显著的影响。在本研究中,主要影响是由于存在ΔLσ,module,因为Lσ,setup未发生显著变化。除非另有说明,本节所有测量均在室温下进行,即TJ=°C,VDC=V。实验所用IGBT(S5)和二极管(EC3)的Inom分别为A和A。图5显示了IC=A时T1与Lσ,total的关断波形。在两个用例中,RG相同,因此器件的开关特性相似。由此可见,VCE的显著差异与ΔLσ,module直接相关。然而,如果Lσ,total较低,则最大VCE为V;如果Lσ,total较高,则会导致V过电压,接近器件的最大阻断电压。此外,较高Lσ,total与IC和VCE上更明显的振荡相关。图5.在TJ=°C,VDC=V且IC=A条件下,T1分别在Lσ,total=nH(左侧)和Lσ,total=nH(右侧)时的关断波形。图6显示了当Lσ,total=nH和Lσ,total=nH时,IGBT关断期间VCE,peak与RG和IC的关系。Lσ,total,VCE,peak随RG减小而增大,与Lσ,total和VCE,peak无关。如果RG较小且IC≥A,则可以看到VCE,peak增加不明显。这是由于电流跳变(snap-off)振荡对开关特性的影响越来越大。因此,出现VCE,peak的位置从关断过程中由器件决定的di/dt转移到电流跳变区。如果RG较大,T1不再自关断,并且IC与VCE,peak的关系也会再次改变。图中明显可以看出,如果Lσ,total较大,VCE,peak值也会较高。因此,如果未优化Lσ,total,即降低到其最小值,必须*IC,RG和/或VDC,以避免运行过程中超过器件的最大阻断能力。图7中图表证实了这些分析结果。图中显示了当IC=A(相当于T1Inom的%)时,VCE,peak与RG的关系。当Lσ,total较高并且VDC=V时,RG必须*到Ω;如果Lσ,total较低,则没有必要设定该限值。在VCE,peak条件下,T1可以在RG为Ω或甚至更低情况下运行。图6.顶部:TJ=°C和VDC=V条件下,当Lσ,total较高(左侧)和较低(右侧)时,IGBT关断期间T1的峰值电压与RG和IC的关系。底部:TJ=°C和VDC=V条件下,当Lσ,total较高(左侧)和较低(右侧)时,二极管恢复期间D2的dv/dtmax与RG和IF的关系。图7.在TJ=°C,VDC=V和V以及IC=A条件下,当Lσ,total=nH(左侧)和nH(右侧)时VCE,peak与RG的关系。红色线和橙色线分别表示VDC=V和V时最大允许VCE,peak。插图:dv/dtmax与RG的关系。红色线表示dv/dt为kV/µs。我们来分析开关斜率。图7中插图显示了最大电压斜率dv/dtmax与RG的关系。假设dv/dt为上文所述kV/µs,Lσ,total较高和较低时,关断期间最小RG均*到Ω。参照对T1的分析,本文也对D2进行了类似分析。图8显示了IF=A时,二极管恢复波形与Lσ,total的关系。同样,该分析中假设开关速度(即diF/dt)相同,因此IF和VF上的较大振荡与Lσ,total的影响直接相关。电流较小时,二极管开关速度达到最快。因此,这些工况下应考虑过压和dv/dt。图8.在TJ=°C,VDC=V和IF=A条件下,当Lσ,total=nH(左侧)和nH(右侧)时,D2的二极管恢复波形。图6说明了当Lσ,total=nH和nH时,D2的dv/dtmax与RG和IF的关系。明显可以看出,RG和IF较低时,dv/dtmax达到最高值。随着RG和/或IF增大,dv/dtmax呈单调递减趋势。再来看Lσ,total,当Lσ,total较高时,dv/dtmax明显增加。具体解释如下:不存在寄生电感的情况下,二极管设计决定了由于给定di/dt条件下清除电荷过程而产生的电压斜率。寄生电感的存在导致感应电压对开关斜率造成叠加影响。特别是对于快速开关二极管,较大di/dt在恢复峰值之后出现,并导致额外的电压增加。这反过来又加大了陡度,从而二极管处出现更高的dv/dtmax。应该注意的是,这个结论只适用于二极管。对于换流通路中的IGBT,由于感应电压的符号反向,dv/dtmax值降低。图9再次显示了RG与dv/dt的关系,具体显示了当IF=IC=A时,dv/dtmax与RG的关系。本图表直观地显示了二极管反向恢复期间D2处的dv/dtmax以及IGBT开通期间T2处的dv/dtmax。当Lσ,total较高且VDC=V时,RG必须*到Ω;如果Lσ,total较低,则没有必要设定该限值。这意味着,D2和T1可以在RG为Ω或甚至更低情况下运行。如上文所述,当Lσ,total较高时,二极管的dv/dtmax与IGBT的dv/dtmax明显差异较大。只有当RG值大于Ω时,二极管和IGBT的dv/dtmax值相似。如果Lσ,total较低,当RG为Ω时就已经达到dv/dtmax。图9的插图显示了IF=A和VDC分别为V和V条件下,D2的峰值电压。在IGBT关断期间也可以看到,当Lσ,tota较低时,Vdiode,peak降低。尽管这一影响十分显著,并且Vdiode,peak降低了百分之几十,RG的选择不受此*。因此,对于IGBT开通和二极管恢复,仅dv/dtmax*并决定RG的大小。图9.在TJ=°C,VDC=V和V以及IF=IC=A条件下,当Lσ,total=nH(左侧)和nH(右侧)时D2(二极管恢复)和T1(IGBT开通)处dv/dtmax与RG的关系。红色线表示最大dv/dt为kV/µs。插图:Vdiode,peak与RG的关系。我们来总结这些分析结果:当Lσ,total较高时,IGBT关断期间VCE,peak值较高,并且二极管恢复期间dv/dtmax值较高。因此,如果选用典型的功率模块设计(与较高Lσ,total存在直接相关性),则必须在逆变器运行期间增大RG,以避免器件和/或栅极驱动单元遭到损坏。图直观地显示了这些结果。图中显示了经优化功率模块设计(Lσ,total=nH)和典型功率模块设计(Lσ,total=nH)中,IGBT损耗(即,EOFF、EON和EREC之和)与IC和IF的关系。如上所述,RG取值确定如下:经优化功率模块设计的RG,on=Ω,RG,off=Ω;典型功率模块设计的RG,on=Ω,RG,off=Ω。可以明显看出,通过选用经优化的功率模块设计和更低RG值,IGBT和二极管的开关损耗大幅降低。对于子*(即IGBT和二极管的组合)来说,损耗可降低多达%。图.在TJ=°C和°C条件下,经优化功率模块设计(Lσ,total=nH)和典型功率模块设计(Lσ,total=nH)中T1和D2的开关损耗与IC和IF的关系。插图:TJ=°C时,由于采用经优化功率模块设计,IGBT和二极管的损耗降低。综上所述,如果主要目的是实现最佳性能,则必须采用经优化功率模块设计。经优化设计的适用性更强,支持运行更高负载电流或通过减小RG提高开关速度。在该*中,这有助于提高灵活性,并且可以降低*的复杂性,比如,减少无源元件或电源滤波器数量。5.适用于V光伏逆变器的优化功率模块根据前一部分的分析和结论,要想在最终*中实现最佳性能,必须采用经优化的功率模块设计。为此,我们按照以下步骤开发适用于V光伏逆变器的经优化功率模块。第一步,确定A*拓扑结构的主要换流通路,如图4所示。第二步,在平行板波导设计中,使电源端子位置相互靠近,以最大限度减少DC+和N之间以及N和DC-之间的杂散电感。DC+,N和DC-的位置如图所示。输出端子设置在输入端子对面,从而简化PCB设计。第三步,确定内部布局,保证关键换流通路上衬底层仅存在非常小的换流回路。避免模块衬底之间存在换流通路。第四步,使用新型无基板Easy3B解决方案开发极低电感对称式功率模块。因此,尽管该模块面积与两个传统Easy2B功率模块的面积相同,其杂散电感仅为nH。另外,与Easy1B和Easy2B相比,Easy3B解决方案的热阻抗降低。第五步,在该功率模块中集成VIGBT和二极管技术。从而,针对V光伏逆变器进行优化且额定电流为A的A*拓扑结构完成集成到单个功率模块中。使用图4所示的VA*拓扑结构对该功率模块的性能进行评估。T1至T4子*和T5至T6子*中分别选用S7和L7。T2和T3的Inom为A,所有其他IGBT的Inom值为A。对于二极管,本文分析了两种主要应用场景:在一种场景中,所有子*均集成ARAPID二极管;在第二种场景中,使用Inom=A的VSiC肖特基二极管替代RAPID二极管D2和D3。同时,将结合T7和EC7的A*拓扑结构作为参考设计,对有源功率换流通路进行比较。在所有用例中,假定平均模块温度最多增加K,这*了该解决方案的适用性。图.Easy3B解决方案,带有基于VA*拓扑结构对应引脚分配。图显示了在DC+和DC-端子之间施加V电压时,最大输出电流Iout与开关频率fSW的关系。实线表示参考设计以及上述两个基于L7/S7场景的Iout。三种解决方案的额定电流相同。当fSW极低时,T7/EC7解决方案的Iout比两种L7/S7解决方案高最多%。当fSW为高于kHz的典型值,前者的Iout比后者高7%左右。值得一提的是,只有当T7/EC7解决方案的功率密度明显较低时,才会实现上述Iout优势。如果功率密度相同,即L7、S7和RAPID二极管的芯片面积相同,情况就会改变。图中虚线直观地显示了这一点。可以明显看出,配置RAPID二极管的L7/S7解决方案和配置SiC二极管的L7/S7解决方案分别实现了Iout增加高达%和%。即使当fSW处于0-kHz范围时,Iout也比T7/EC7参考设计高出最少%,最多%。这些研究结果并不令人意外,因为T7和EC7针对通用变频器进行了优化,因而开关频率更低。因此,如果光伏应用要求提高开关速度,那么L7和S7的优势就会显现出来。图中插图显示了达到对应的最大Iout时,*效率与fSW的关系。所有解决方案的*效率至少达到了.2%。L7/S7解决方案的*效率始终比基于T7的解决方案高出最少0.%,最多0.3%。应该注意的是,与Inom=A(实线)的L7/S7解决方案相比,芯片尺寸更大的L7/S7解决方案(虚线)的*效率略低,但Iout明显更高。尽管*效率略低,但当fSW=kHz时,Iout提高了%至%。图.在相同热边界条件下,不同解决方案和功率密度不同时Iout与fSW的关系。插图:在相应的Iout条件下,不同解决方案和功率密度不同时*效率与fSW的关系。6.最后总结本文介绍了新型VIGBT和二极管及其固有设计方案,并将其与现有的V技术进行了比较。已有的微沟槽设计支持开发优化静态损耗的IGBT(L7)和快速开关IGBT(S7)。与最先进的VIGBT相比,新型V技术的静态损耗显著降低,开关性能显著提高,并且实现了更优*性能。通过对功率模块设计与A*拓扑结构相互作用的综合分析,本文确定了关键换流通路和**因素。分析结果表明,经优化的功率模块设计显著降低了总杂散电感,从而进一步简化了开关*作,使损耗大幅降低多达%。基于经优化的功率模块设计,我们提出了额定电流为A的全集成A*拓扑结构,适用于V光伏逆变器。新推出的Easy3B解决方案采用了该A*结构,使得模块杂散电感低至仅nH。这种功率模块设计结合新推出的VIGBT为光伏逆变器提供了两种可选方案。一方面,如果更换给定的VIGBT,则可以在大幅减小芯片面积的同时实现相同的输出功率。另一方面,如果采用相同的芯片面积,则输出电流可增加%至%。参考文献[1]T.KimmerandE.Griebl,“Trenchstop5:AnewapplicationspecificIGBTseries”,Proc.PCIMEurope,pp.-,.[2]F.Wolteretal.,“Multi-dimensionaltrade-offconsiderationsoftheVmicropatterntrenchIGBTforelectricdrivetrainapplications”,Proc.*PSD,pp.-,.[3]C.Jaegeretal.,“Anewsub-microntrenchcellconceptinultrathinwafertechnologyfornextgenerationVIGBTs”,Proc.*PSD,pp.-,.[4]C.R.Mülleretal.,“NewVIGBTanddiodetechnologywithimprovedcontrollabilityforsuperiorperformanceindrivesapplication”,Proc.PCIMEurope,pp.-,.[5]D.Floricauetal.,"Theefficiencyofthree-levelactive*converterfordifferentPWMstrategies",Proc.EPE,pp.1-9,.[6]A.C.Schittleretal.,“Interactionofpowermoduledesignandmodulationschemeforactiveneutralpointclampedinverters“,Proc.PCIMEurope,pp.tbd.,.[7]C.R.Mülleretal.,“UsingVhighspeed3IGBTsinpowermodulesforsolarinverterperformanceimprovement”,Proc.来源:Infineon标签: 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