如何通过最小化热回路来优化开关电源布局? (最小化啥意思)
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图1.带热回路ESR和ESL的降压转换器热回路PCB的ESR和ESL与解耦电容位置的关系本部分基于ADI公司的LTMµModule®稳压器演示板DCA-B来研究CIN位置的影响。LTM是一款集成式VIN、A降压型转换器模块,采用小型6.mm×6.mm×5.mmBGA封装。它具有高功率密度、快速瞬态响应和高效率特性。模块内部集成了一个小的高频陶瓷CIN,不过受限于模块封装尺寸,这还不够。图2至图4展示了演示板上的三种不同热回路,这些热回路使用了额外的外部CIN。第一种是垂直热回路1(图2),其中CIN1放置在μModule稳压器下方的底层。µModuleVIN和GNDBGA引脚通过过孔直接连接到CIN1。这些连接提供了演示板上的最短热回路路径。第二种热回路是垂直热回路2(图3),其中CIN2仍放置在底层,但移至μModule稳压器的侧面区域。其结果是,与垂直热回路1相比,该热回路添加了额外的PCB走线,预计ESL和ESR更大。第三种热回路选项是水平热回路(图4),其中CIN3放置在靠近μModule稳压器的顶层。µModuleVIN和GND引脚通过顶层铜连接到CIN3,而不经过过孔。然而,顶层的VIN铜宽度受其他引脚排列的*,导致回路阻抗高于垂直热回路1。表1比较了FastHenry提取的热回路PCBESR和ESL。正如预期的那样,垂直热回路1的PCBESR和ESL最低。图2.垂直热回路1:(a)俯视图和(b)侧视图图3.垂直热回路2:(a)俯视图和(b)侧视图图4.水平热回路:(a)俯视图和(b)侧视图表1.使用FastHenry提取的不同热回路的PCBESR和ESL为了通过实验验证不同热回路的ESR和ESL,我们测试了V转1VCCM运行时演示板的效率和VIN交流纹波。理论上,ESR越低,则效率越高,而ESL越小,则VSW振铃频率越高,VIN纹波幅度越低。图5a显示了实测效率。垂直热回路1的效率最高,因为其ESR最低。水平热回路和垂直热回路1之间的损耗差异也是基于提取的ESR计算的,这与图5b所示的测试结果一致。图5c中的VINHF纹波波形是在CIN上测试的。水平热回路具有更高的VIN纹波幅度和更低的振铃频率,因此验证了其回路ESL高于垂直热回路1。另外,由于回路ESR更高,因此水平热回路的VIN纹波衰减速度快于垂直热回路1。此外,较低的VIN纹波降低了EMI,因而可以使用较小的EMI滤波器。图5.演示板测试结果:(a)效率,(b)水平回路与垂直回路1之间的损耗差异,(c)A输出时M1导通期间的VIN纹波表2.对于不同器件形状和位置,使用FastHenry提取的热回路PCBESR和ESL热回路PCBESR和ESL与MOSFET尺寸和位置的关系对于分立式设计,功率FET的布置和封装尺寸对热回路ESR和ESL也有重大影响。本部分对使用功率FETM1和M2以及解耦电容CIN的典型半桥热回路进行了建模和研究。图6比较了常见功率FET封装尺寸和放置位置。表2显示了每种情况下提取的ESR和ESL。情况(a)至(c)展示了三种常见功率FET布置,其中采用5mm×6mmMOSFET。热回路的物理长度决定了寄生阻抗。与情况(a)相比,情况(b)中的°形状布置和情况(c)中的°形状布置的回路路径更短,导致ESR降低%,ESL降低%。由于°形状布置显示出了优势,我们基于情况(b)研究了更多情况,以进一步降低回路ESR和ESL。情况(d)将一个5mm×6mmMOSFET替换为两个并联的3.3mm×3.3mmMOSFET。由于MOSFET尺寸更小,回路长度进一步缩短,导致回路阻抗降低7%。情况(e)将一个接地层放置在热回路层下方,与情况(d)相比,热回路ESR和ESL进一步降低2%。原因是接地层上产生了涡流,其感应出相反的磁场,相当于降低了回路阻抗。情况(f)构建了另一个热回路层作为底层。如果将两个并联MOSFET对称布置在顶层和底层,并通过过孔连接,则由于并联阻抗,热回路PCBESR和ESL的降低更加明显。因此,在顶层和底层上以对称°形状或°形状布置较小尺寸的器件,可以获得最低的PCBESR和ESL。为了通过实验验证MOSFET布置的影响,我们使用了ADI公司的高效率4开关同步降压-升压*演示板LT/DCA和LT/DCA。如图7a和图7b所示,DCA采用直线MOSFET布置,DCA采用°形状的MOSFET布置。为了进行公平比较,两个演示板配置了相同的MOSFET和解耦电容,并在V转V/A、kHz降压*作下进行了测试。图7c显示了M1导通时刻测得的VIN交流纹波。采用°形状的MOSFET布置时,VIN纹波的幅度更低,谐振频率更高,这就验证了热回路路径较短导致PCBESL更小。相反,直线MOSFET布置的热回路更长,ESL更高,导致VIN纹波幅度要高得多,并且谐振频率更低。根据Cho和Szokusha研究的EMI测试结果,较高的输入电压纹波还会导致EMI辐射更严重。图6.热回路PCB模型:(a)5mm×6mmMOSFET,直线布置;(b)5mm×6mmMOSFET,以°形状布置;(c)5mm×6mmMOSFET,以°形状布置;(d)两个并联的3.3mm×3.3mmMOSFET,以°形状布置;(e)两个并联的3.3mm×3.3mmMOSFET,以°形状布置,带有接地层;(f)对称的3.3mm×3.3mmMOSFET,位于顶层和底层,以°形状布置。图7.(a)LT/DCA热回路,MOSFET以直线布置;(b)LT/DCA热回路,MOSFET以°形状布置;(c)M1导通时的VIN纹波波形。图8.热回路PCB模型,(a)5个GND过孔靠近CIN和M2布置;(b)个GND过孔布置在CIN和M2之间;(c)基于(b),GND上再布置6个过孔;(d)基于(c),GND区域上再布置9个过孔。热回路PCB的ESR和ESL与过孔布置的关系热回路中的过孔布局对回路ESR和ESL也有重要影响。图8对使用两层PCB结构和直线布置功率FET的热回路进行了建模。FET放置在顶层,第二层是接地层。CINGND焊盘和M2源极焊盘之间的寄生阻抗Z2是热回路的一部分,作为示例进行研究。Z2是从FastHenry提取的。表3总结并比较了不同过孔布置的*ESR2和ESL2。通常,添加更多过孔会降低PCB寄生阻抗。然而,ESR2和ESL2的降低程度与过孔数量并不是线性比例关系。靠近引脚焊盘的过孔,所导致的PCBESR和ESL的降低最明显。因此,对于热回路布局设计,必须将几个关键过孔布置在靠近CIN和MOSFET焊盘的位置,以使高频回路阻抗最小。表3.使用不同过孔布置时提取的热回路PCBESR2和ESL2结论减小热回路的寄生参数有助于提高电源效率,降低电压振铃,并减少EMI。为了尽量减小PCB寄生参数,我们研究并比较了使用不同解耦电容位置、MOSFET尺寸和位置以及过孔布置的热回路布局设计。更短的热回路路径、更小尺寸的MOSFET、对称的°形状和°形状MOSFET布置、靠近关键元器件的过孔,均有助于实现最低的热回路PCBESR和ESL。标签: 最小化啥意思
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