光耦电流传输比CRT的简易测试 (光耦电流传输比怎么选择)

概述：本文介绍的测试方法可直接测试光电耦合器的重要参数——电流传输比CRT。测试电路见图。

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万用表(以DT为例)拨至测NPN管挡，在hFE插口的e孔上有2．8V的电压，e孔在表内接mV测试挡的输入端，e孔与地COM之间接有一个Ω的电阻。如图接好所测光电耦合器(以P为例)后，光耦的①、②脚间电压约为1V，流过发光二极管的电流i，约1mA。流过光敏管的电流i2在Ω电阻上产生压降，量程为mV的电压表所测的电压就是Ω电阻上的电压，Ω电阻起I-V转换的作用。万用表在测hFE时，等效量程为mV但无小数点的电压表，这时显示值的1个单位代表0．1mV。如在LCD上的读数是，则表示Ω电阻上的电压是×0．1=mV，同时可推知i2=／=mA。光电耦合器的电流传输比CRT的定义是CRT=i2／i1×％，将i1、i2的数据代入，得CRT=／1×％，=％，数值上与LCD的读数相同，说明此法可直接测得光耦的CRT。