再议光电耦合器的检测方法 (光电光电耦合器)

《只用一只万用表判别光电耦合器》一文中叙述的检测方法的确是一种实用的测量技巧，打破了常规“双表”检测的方法。经过细读之后，笔者觉得原文用大电容uF-uF充电后，对光电耦合器内二极管放电，并用R×1k挡同时来测光电耦合器被控端的导通情况，此法欠妥，uF-uF大电容瞬间对光耦中二极管放电，有击坏二极管的危险。况且，手拿电容器放电，又用表测导通电阻，甚为不便。为此，笔者将多年来常用的单表测光耦的方法介绍给大家。此法仅用一只型万用表便可直接测出光耦好坏，实为方便之举。具体测试方法仍以彩电中常用的PC为例，其内电路如图1所示，基本检测过程如下：用R×1k挡测①、②脚内二极管是否完好，再测③、④端正反向电阻应为开路状态∞(R×1k挡表内电池仅1．5V)；再用R×k挡测①、②端正向电阻，阻值较小，而反向电阻应为无穷大。用黑表针接④脚，红表针接③脚时应为无穷大的电阻，相反方向测量时，随③、④脚内三极管两极ce的稳压特性有别，一般表中指针会动，与普通小功率硅三极管ce间稳压特性相似。不能千篇一律，但可参考。

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经过以上初测后，就可进入实际测试，见图2，用型表R×1挡，红表针接②脚，黑表针(黑测试笔，上同)接①脚，此时表中有一阻值显示，然后将两表针尖向③、④端靠拢并接触良好，使③、④脚导通电阻与①、②脚导通电阻并联，表中电阻值会减小，否则光耦损坏。如表中电阻变化不多，即③、④脚导通内阻较大，应慎用或不用。此外还可以用R×挡，但R×挡和R×1k两挡不宜作此项测量，因其提供给光耦内二极管的电流太小，③、④脚导通电阻很大，在表中反应甚微。附表是笔者对两只光耦用—4型表Rx1、Rx挡所测数据，供读者实践中参考(万用表及光耦产地不同，略有差异)。