简易的单向可控硅测试方法 (简易的单向可控系统)

用万用表测可控硅好坏，容易误判，且不能带电在线测量。最好的办法还是要接强电和负载、并加触发电压测试。笔者在长期实践中，有一种最为简便可靠的测试方法。某可控硅SCR*主电路如图1的虚线框内所示，改用W灯泡作负载，SCR为待测可控硅。准备一支二极管1N，正极接可控硅阳极，负极串联电流表碰触可控硅控制极，如灯泡亮(灯泡亮度比正常小)，电流表指示几毫安以下，可控硅是好的。如果电流很大，正好等于通过灯泡电流(V电压加在W灯泡上，约0．A)，显然AK没有电流通过，可控硅损坏断路了。有经验的电工不必串联电流表，按照碰触瞬间产生火花情况就可进行判断。如图1，先将二极管正极与SCR的A极连接牢固，再把二极管负极碰触SCR的G极，对于好的SCR，因通过二极管电流很小，不产生火花；如果SCR的AK断路，流过二极管的电流很大，就会有明显火花，所以两者情况不用电流表也可判断。如灯泡不亮(排除因线路故障无输出情况)，肯定可控硅损坏。用二极管接触可控硅AG，进行触发，它不要其他触发电源，也是安全的。读者可能有顾虑，直接用强电触发，恐怕损坏可控硅或测试二极管，但分析产生触发过程表明：二极管在可控硅阳极A电压由零上升到0．7V以上时，开始有正向电流，到5V左右时，大多数可控硅即会导通，导通后AK正向电压仅(0．7～1)V左右，二极管在此低电压作用下，其通过GK的电流接近零。并且触发电压、电流、脉宽还能够根据可控硅需要量自动调整。图2是SCR触发过程电源电压曲线，最大值V，粗线表示AK承受电压曲线，正向最大值由该可控硅所需要的触发电压和脉宽确定，仅几伏。触发电流起作用的是画剖面线段的时间内，不足电源半周期的百分之一(图未按照实际比例)。如可控硅不通，负载是W灯泡，测试二极管1N承受全部电流也没有问题，因此图1的电路对于被测可控硅和测试用二极管都是安全的(串联电流表时，开始用1A挡)。笔者用单结晶体管、两种触发电路和本测试方法，测试了一些可控硅触*况，并测量可控硅GK正反向电阻(用MF型表R×挡，如附表所示。表中反映较容易触发的可控硅(单结晶体管触发电路触发功率较小)，测试的触发电流较小，但同一规格产品差别甚大，这一方面表明所需触发电压、脉宽的差异，还有一个重要因素是可控硅导通后正向电压降大小，因导通时间远大于触发时间，它对通过二极管电流影响更大。当所测电流较小时，该可控硅正向电压降也较小，这是一个优良SCR。除SCR确实损坏，本电路无一例外都能触发。利用该测试电路把某些*上不能触发，但并未损坏的可控硅挑选出来，作整流管使用，如图3(a)中A可控硅AG并联1N后，相当图3（b）A整流管。我用它们装配成给kW发电机的励磁整流器，在农村某加油站使用，四年多没有出现故障。

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